产品概述：
信号完整性（SI, SignalIntegrity），定义为信号在电路中能以正确时序和电压做出回应的能力。广义上讲，信号完整性指的是在高速产品中由互连线引起的所有问题。SI解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现
博达实验室，工程师具有多年研究背景，测试手段很多，涉及的仪器也很多，熟悉各种测试手段的特点，以及根据测试对象的特性和要求，选用适当的测试手段，对于选择方案、验证效果、解决问题等硬件开发活动，都能够大大提高效率，起到事半功倍的作用。如果您需要类似的测试方案，来电咨询，我真诚的期待与您合作。
示波器的主要介绍：
Tektronix
DPO5104
Keysight
MSO804A
Tektronix
DPO73304DX
LeCroy
SDA845Zi-A
图片
模拟带宽
1 GHz
8 GHz
33 GHz
45GHz
采样率
5 GS/s
20 GS/s
100 GS/s
120GS/s
模拟通道
4
4
4
4
高速信号测试项目：
Clock：时钟信号（ClockSignal），有固定的时钟频率，于同步电路当中，扮演计时器的角色，保证相关的电子组件得以同步运作；测试主要分析精度和时序
I2C：Inter-ICbus，共两条连续总线，SCL和SDA。测试主要分析SCL和SDA之间的时序。
SPI：串行外设接口（Serial PeripheralInterface），高速的，全双工，同步的通信总线。测试主要分析clock、data_in、data_out、CS#之间的时序；
SMI：串行管理接口（Serial ManagementInterface），也被称作MII管理接口（MII ManagementInterface），包括MDC和MDIO两条信号线。测试主要分析MDC和MDIO之间的时序；
MII接口的类型有很多，常用的有MII、RMII、SMII、SSMII、SSSMII、GMII、RGMII、SGMII、TBI、RTBI、XGMII、XAUI、XLAUI等。
SGMII：串行千兆媒体独立接口（serial gigabitmedia independent interface），SGMII是MAC和PHY之间的串行接口。测试主要分析SGMII_RX和SGMII_TX的Eye Pattern；
DDR：双倍速率同步动态随机存储器（Dual DataRate），其全称为DDRSDRAM，而DDR3则是DDR的第三代产品。测试主要分析DDR3的DQ、DQS、AD、RAS、CAS等时序；
SFP+：可插拔光学收发器接口，传输速率为10.3125Gbps。测试主要分析SFP+_TX的EyePattern；
QSFP：四通道的SFP+接口的可插拔光学收发器接口，传输可达到40Gbps以满足更高速率的要求。测试主要分析QSFP_TX的EyePattern；
PCIe：高速串行计算机扩展总线标准（peripheralcomponent interconnectexpress），速串行点对点双通道高带宽传输。测试主要分析PCIe_TX和PCIe_RX的EyePattern；
URAT：通用异步收发传输器（Universal AsynchronousReceiver/Transmitter)，通常称作UART。它将要传输的资料在串行通信与并行通信之间加以转换。作为把并行输入信号转成串行输出信号的芯片，UART通常被集成于其他通讯接口的连结上。
MII：MII是英文Medium IndependentInterface的缩写，翻译成中文是“介质独立接口”，该接口一般应用于MAC层和PHY层之间的以太网数据传输，也可叫数据接口。（MAC与PHY间的管理接口一般是MDIO）
HDMI：高清多媒体接口（High DefinitionMultimediaInterface，HDMI）是一种全数字化视频和声音发送接口，可以发送未压缩的音频及视频信号。HDMI可用于机顶盒、DVD播放机、个人计算机、电视、游戏主机、综合扩大机、数字音响与电视机等设备。HDMI可以发送音频和视频信号，由于音频和视频信号采用同一条线材，大大简化系统线路的安装难度。
MIPI：MIPI联盟，即移动产业处理器接口（MobileIndustry Processor Interface简称MIPI）联盟。MIPI（移动产业处理器接口）是MIPI联盟发起的为移动应用处理器制定的开放标准和一个规范。
USB：Universal SerialBus（通用串行总线），标准的数据通信方式，现已发展到USB4.0，测试主要分析接收端HOST、Device和发送端TP1
PCI：Peripheral ComponentInterconnect(外设部件互连标准)，是一种同步的独立于处理器的32位或64位局部总线。测试主要分析PCI_TX和PCI_RX的EyePattern；
XAUI：其中的“AUI”部分指的是以太网连接单元接口（Ethernet Attachment UnitInterface）。“X”代表罗马数字10，它意味着每秒万兆(10Gbps)。
SFI：sfi接口SFI (SFP+high speedserial electricalinterface）接口是一种基于交流耦合的差分低电压高速接口，用于连接PHY和40G/100G光模块。测试主要分析SFI_TX的EyePattern；
SATA：SATA是SerialATA的缩写，即串行ATA。它是一种电脑总线，主要功能是用作主板和大量存储设备（如硬盘及光盘驱动器）之间的数据传输。
DDR测试举例：
Part No.
Measurement
Min.
Max.
Test Value
Unit
Results
U7
Clock Speed Grade
-
-
600.015
MT/s
Informational Only
tCK(avg), rise
-
-
3.333
ns
Informational Only
tCK(avg), fall
-
-
3.333
ns
Informational Only
tCK(abs), rise, min
-
-
3.278
ns
Informational Only
tCK(abs), rise, max
-
-
3.380
ns
Informational Only
tCK(abs), fall, min
-
-
3.273
ns
Informational Only
tCK(abs), fall, max
-
-
3.388
ns
Informational Only
Part No.
Measurement
Min.
Max.
Test Value
Unit
Results
U7
SlewR of DQ min
-
-
2.4866
GV/S
Informational Only
SlewR of DQS min
-
-
4.7998
GV/S
Informational Only
SlewR of CK min
-
-
0.8292
GV/S
Informational Only
SlewF of DQ min
-
-
2.7007
GV/S
Informational Only
SlewF of DQS min
-
-
5.2773
GV/S
Informational Only
SlewF of CK min
-
-
0.7657
GV/S
Informational Only
Part No.
Measurement
Min.
Max.
Test Value
Unit
Results
U7
tDQSQ Max
-
240
45
ns
Pass
tHP
-
-
1.428
ns
Informational Only
tQHS Max
-
340
252
ps
Pass
tQH Min
1.088
-
1.573
ns
Pass
tDQSCK max
-
400
163
ns
Pass
tDQSCK min
-400
-
32
ns
Pass
Clock Tests - tJIT(duty)
Clock Tests - all buttERR(nper)
Clock Tests - tJIT(cc)
Clock Tests - tERR(2per), tERR(3per)
Part No.
Parameter
Specification
Test Value
Unit
Results
Min.
Max.
DDR_U48
Trigger
-
-
1
1
Informational Only
Clock Speed Grade
-
-
1.333e+09
T/s
Informational Only
tCK(avg)rise
-
-
1.500
ns
Informational Only
tCK(avg)fall
-
-
1.500
ns
Informational Only
tCK(abs)risemin
1.420
-
1.482
ns
Pass
Part No.
Parameter
Specification
Test Value
Unit
Results
Min.
Max.
DDR_U48
SlewR of DQ min
-
-
3.03414
GV/S
Informational Only
SlewR of DQS min
-
-
7.29091
GV/S
Informational Only
SlewR of CK min
-
-
5.89943
GV/S
Informational Only
SlewF of DQ min
-
-
2.7615
GV/S
Informational Only
Part No.
Parameter
Specification
Test Value
Unit
Results
Min.
Max.
DDR_U48
tDQSQ Max
-
125.0
101.3
ps
Pass
tQSH Min
400.0
-
472.8
mtCK(avg)
Pass
tQSL Min
400.0
-
514.5
mtCK(avg)
Pass
tQH Min
380.0
-
539.7
mtCK(avg)
Pass
Clock Tests - Waveforms acquired used tomeasure
Clock Frequency
Clock Tests - all but tERR(nper)
Clock Tests - tERR(2per) to tERR(5per)
SATA举例测试：
关于我们实验室————
BDCOM博达实验室坐落于上海浦东张江高科技园区，拥有二十多年的技术累积，搭建了成熟完善的测试平台，可以提供硬件测试外包服务和测试仪器租凭服务！